所属: 株式会社BFAIセミコンダクタソリューションズ
報告者: 長島剛宏 報告日: 2026-02-19
半導体の品質検査は現在、人の目に頼る部分が多く、検査の速度と精度に限界
評価指標: AUROC, AUPRC, F1-Score
AI モデルの性能を評価・比較する環境
コード提出 → GPU 学習・評価 → 結果可視化の自動パイプライン
異常検知モデルの出力を活用した以下の可視化手法を予定